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如何测试CC2640的BLE射频指标

课程介绍: 介绍了LE测试方面SIG的规范,TI的DTM和PTM 以及测试CC2640的BLE射频指标的视频演示, 低功耗蓝牙射频测试规范简介和测试平台介绍及典型仪器介绍, 以及在CBT上测试TI的CC2640的演示。

课时相关:共3课时 总时长27分39秒

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介绍了LE测试方面SIG的规范,TI的DTM和PTM 以及测试CC2640的BLE射频指标的视频演示, 低功耗蓝牙射频测试规范简介和测试平台介绍及典型仪器介绍, 以及在CBT上测试TI的CC2640的演示。

讲师

讲师: TI_Albin

电磁场与微波技术专业硕士,德州仪器中国首席射频应用工程师。长期从事各类无线标准的研究和设计工作,擅长硬件系统在射频性能、通信距离、整机功耗、体积以及网络协议上的优化与提高,取得了多方面成果,累积发表多篇论文专著和培训教程。