如何测试CC2640的BLE射频指标(一)

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课程介绍 共计3课时,27分39秒

如何测试CC2640的BLE射频指标

介绍了LE测试方面SIG的规范,TI的DTM和PTM 以及测试CC2640的BLE射频指标的视频演示, 低功耗蓝牙射频测试规范简介和测试平台介绍及典型仪器介绍, 以及在CBT上测试TI的CC2640的演示。

讲师

讲师: TI_Albin

电磁场与微波技术专业硕士,德州仪器中国首席射频应用工程师。长期从事各类无线标准的研究和设计工作,擅长硬件系统在射频性能、通信距离、整机功耗、体积以及网络协议上的优化与提高,取得了多方面成果,累积发表多篇论文专著和培训教程。

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