超大规模集成电路测试（VLSI Testing）

This course is offered by Prof. James Chien-Mo Li, Lab of Dependable Systems, National Taiwan University.
Lecture notes available on course website  http://cc.ee.ntu.edu.tw/~cmli/VLSItes...
This course is based on the teaching materials of late Professor McCluskey, Stanford University

• 课时1：Introduction What Is Testing (12分37秒)

• 课时2：Introduction Types Of Tests (30分58秒)

• 课时3：Introduction TestQuality (32分9秒)

• 课时4：Introduction Test Economics (33分41秒)

• 课时5：ReferenceDedication (_optional) (13分16秒)

• 课时6：LogicSim Intro (9分37秒)

• 课时7：LogicSim Model (22分9秒)

• 课时8：LogicSim CompliedCode (12分50秒)

• 课时9：LogicSim EventDriven (26分4秒)

• 课时10：LogicSim Parallel (13分13秒)

• 课时11：LogicSim Issues (_ optional) (21分48秒)

• 课时12：FaultModeling Intro (17分23秒)

• 课时13：FaultModeling SSF (15分52秒)

• 课时14：FaultModeling BridgeFault (19分5秒)

• 课时15：FaultModeling DelayFault (28分3秒)

• 课时16：FaultModeling TransistorFault (_ optional) (26分49秒)

• 课时17：FaultModeling_ FaultDetect,FaultCoverage (20分13秒)

• 课时18：Equivalent Fault Collapsing (18分25秒)

• 课时19：Dominance Fault Collapsing, DFC (_optional) (28分34秒)

• 课时20：FaultSim Intro (15分26秒)

• 课时21：FaultSim Parallel (17分0秒)

• 课时22：FaultSim Deductive (21分59秒)

• 课时23：Concurrent Fault Simulation (14分45秒)

• 课时24：FaultSim DiffFsim (23分14秒)

• 课时25：FaultSim Alternatives (32分11秒)

• 课时26：FaultSim IssueConclusion (_optional) (8分38秒)

• 课时27：Testability Intro (21分3秒)

• 课时28：Testability SCOAPseq (_optional) (28分15秒)

• 课时29：Testability COP (16分49秒)

• 课时30：Combinational ATPG Introduction (14分52秒)

• 课时31：Combinational ATPG (Boolean Difference) (21分48秒)

• 课时32：Combinational ATPG (Single Path Sensitization) (23分34秒)

• 课时33：Combinational ATPG, D_algorithm (33分22秒)

• 课时34：Combinational ATPG, PODEM (36分28秒)

• 课时35：Combinational ATPG, FAN (38分4秒)

• 课时36：Combinational ATPG, SAT (8分47秒)

• 课时37：Combinational ATPG, acceleration techniques (34分33秒)

• 课时38：Sequential ATPG Introduction (16分13秒)

• 课时39：Sequential ATPG (9_valued) (11分51秒)

• 课时40：Sequential ATPG (Backward Time Frame Processing) (25分10秒)

• 课时41：Sequential ATPG Simulation (_optional) (27分45秒)

• 课时42：Sequential ATPG Conclusion (_optional) (13分14秒)

• 课时43：DelayTest Intro (20分38秒)

• 课时44：Delay Test _ Path Sensitize (23分38秒)

• 课时45：DelayTest PathTG (26分58秒)

• 课时46：DelayTest PathFsim (26分30秒)

• 课时47：DelayTest TransitionFsimTG (14分44秒)

• 课时48：Diagnosis Intro (20分39秒)

• 课时49：Diagnosis StaticCE (28分22秒)

• 课时50：Diagnosis DynamicCE (18分22秒)

• 课时51：Diagnosis EffectCause (26分15秒)

• 课时52：Diagnosis, Chain Diagnosis (_optional) (28分45秒)

• 课时53：DFT1 Intro (23分22秒)

• 课时54：DFT1 ScanConcepts (21分23秒)

• 课时55：DFT1 _ Test Mode Operation (SSF & Delay Test LOS_LOC) (25分49秒)

• 课时56：DFT1 Muxed_D Scan ATPG model (_optional) (28分19秒)

• 课时57：DFT1 ClockScan (_optional) (13分31秒)

• 课时58：DFT1 LSSD (11分58秒)

• 课时59：DFT1 ScanDesignFlow (36分0秒)

• 课时60：DFT1 IssueSol (26分52秒)

• 课时61：DFT2 JTAG Intro (15分38秒)

• 课时62：DFT2 JTAG Registers (21分46秒)

• 课时63：DFT2 JTAG Instruction (20分40秒)

• 课时64：DFT2 JTAG Instruction (old version) (20分59秒)

• 课时65：DFT2 Instruction2Conclude (15分21秒)

• 课时66：BIST1 Intro (20分39秒)

• 课时67：BIST1 LFSR (36分49秒)

• 课时68：BIST1 _ LFSR seed solving (26分24秒)

• 课时69：BIST1 LFSRpolynomial (29分23秒)

• 课时70：BIST1 CA (29分28秒)

• 课时71：BIST2 Intro (26分6秒)

• 课时72：BIST2 SerialORA (41分25秒)

• 课时73：BIST2 Parallel ORA MISR (30分15秒)

• 课时74：BIST2 Architecture (16分41秒)

• 课时75：BIST2 Design Phase Shifter for LFSR TPG (10分29秒)

• 课时76：BIST2 IssuesConclude (_optional)_2 (34分36秒)

• 课时77：TestCompress Intro (21分17秒)

• 课时78：TestCompress SoftwareSTC (37分26秒)

• 课时79：Test Compress Hardware Stimulus (updated 5_10_2020) (28分8秒)

• 课时80：TestCompress HardwareResponse (_optional) (29分49秒)

• 课时81：MemTest Intro (32分24秒)

• 课时82：Memory Test _ Classical algorithm (23分41秒)

• 课时83：MemTest March (25分17秒)

• 课时84：FunctionTest Intro (19分31秒)

• 课时85：FunctionTest CheckExp (37分51秒)

• 课时86：FunctionTest IOV (34分56秒)

• 课时87：FunctionTest SV (_optional) (15分55秒)