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Diagnosis EffectCause
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时长：26分15秒
日期：2021/06/24
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上传者：桂花蒸
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课程介绍

相关标签：测试集成电路 BIST

This course is offered by Prof. James Chien-Mo Li, Lab of Dependable Systems, National Taiwan University.
Lecture notes available on course website http://cc.ee.ntu.edu.tw/~cmli/VLSItes...
This course is based on the teaching materials of late Professor McCluskey, Stanford University

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