随着第三代半导体器件在高功率、高频率应用中的普及,测试这些器件变得更加复杂,传统的测试方法已无法满足这些新型器件的需求。是德科技开发了一种光隔离差分探头系列,专门用于提高宽带隙 GaN 和 SiC 半导体等快速开关器件的效率和性能测试。新电压探头亮点: • 实现高压、噪声环境中浮动电路的准确和安全测量 • 提供优越的高共模电压和伴随噪声的抑制能力,以隔离小而快速的开关信号
S3C2440有很多管脚没有用到,默认是GPIO脚。有个寄存器PORT PULL-UP REGISTER (GPBUP-GPJUP)The port pull-up register controls the pull-up resister enable/disable of each port group. When the corresponding bit is 0, the pull-u